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發(fā)布日期：2021-01-19 發(fā)布人：原創(chuàng) 瀏覽次數(shù)：1361

WK 260 MU

WK 260 MU型測(cè)試儀是計(jì)算機(jī)、電子設(shè)備、汽車(chē)行業(yè)線束檢測(cè)較為理想的檢測(cè)設(shè)備。
完全無(wú)需計(jì)算機(jī)控制操作，并可無(wú)縫集成在自動(dòng)化生產(chǎn)線中。
通過(guò)自動(dòng)編程功能，可以自動(dòng)學(xué)習(xí)“標(biāo)準(zhǔn)樣品”生成測(cè)試程序。操作過(guò)程中，方向鍵和顯示屏可以簡(jiǎn)單直觀的查看過(guò)程?？蛇x擇通過(guò)IVISion Studio軟件在計(jì)算機(jī)中編輯和集中管理測(cè)試程序。

特點(diǎn)

可選擇單機(jī)使用，無(wú)需計(jì)算機(jī)

測(cè)試點(diǎn)板卡可承受較高的外部電壓

通過(guò)接通外部電壓，可擴(kuò)展功能測(cè)試

全新研發(fā)高靈活性高穩(wěn)定性測(cè)試點(diǎn)模塊

使用單點(diǎn)矩陣板卡可以縮短測(cè)試時(shí)間

測(cè)試點(diǎn)卡最高可耐受50 V外部電壓

測(cè)試點(diǎn)靈活應(yīng)用，每個(gè)管腳都可以定義為以下內(nèi)容：

測(cè)試點(diǎn) – 相互切換和測(cè)量電流電壓

LED 點(diǎn) – 激活手持適配器或測(cè)試桌上的LED等

供電點(diǎn) – 通過(guò)開(kāi)關(guān)接通外部電壓用于功能測(cè)試

插接檢測(cè) – 檢測(cè)連接器是否正確插接

探測(cè)點(diǎn) – 可檢測(cè)連接器外殼定位銷(xiāo)或線束夾子正否正確安裝到位

位置測(cè)量 – 特殊伸縮探針檢測(cè)插接深度是否到位

功能全面、測(cè)試精準(zhǔn)

用于繼電器和電子器件的功能測(cè)試，開(kāi)關(guān)電壓可達(dá)50V

準(zhǔn)確測(cè)量電流和電壓

測(cè)試精度高至1 Ohm

安裝和編程簡(jiǎn)單方便

測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部自動(dòng)尋址識(shí)別測(cè)試點(diǎn)板卡

自動(dòng)檢測(cè)測(cè)試點(diǎn)、LED 點(diǎn)、供電點(diǎn)和探測(cè)點(diǎn)

方便的自動(dòng)編程功能，輕松學(xué)習(xí)“標(biāo)準(zhǔn)樣品”

豐富的自診斷功能，可檢測(cè)發(fā)生器、測(cè)量設(shè)備、測(cè)試點(diǎn)、外部電壓和LED的狀態(tài)

無(wú)縫集成在自動(dòng)化生產(chǎn)線中

緊湊型設(shè)計(jì)

支持不需要計(jì)算機(jī)獨(dú)立操作使用

可擴(kuò)展至1,500個(gè)測(cè)試點(diǎn)

大量接口

串行和并行接口可連接至外圍設(shè)備

USB 接口可用于加載測(cè)試程序或用戶(hù) ID識(shí)別（選件）

多種選件配置滿足用戶(hù)不同特殊需求

WK 260 MU

在測(cè)試主機(jī)上編程操作（不支持IVISion Studio軟件）；

通過(guò)USB接口在設(shè)備之間傳輸數(shù)據(jù)

WK 260 MU-I

使用IVISion Studio軟件編程；

通過(guò)USB和/或以太網(wǎng)接口傳輸數(shù)據(jù)

WK 260 MU-E（開(kāi)發(fā)中）

使用IVISion Studio軟件編程；

通過(guò)USB和/或以太網(wǎng)接口傳輸數(shù)據(jù)

通過(guò)以太網(wǎng)接口使用 NetStar Enterprise 4.0軟件編輯測(cè)試程序和測(cè)試結(jié)果管理（開(kāi)發(fā)中）

簡(jiǎn)明直觀的IVISion Studio軟件（選件）

從 IVIS 5 或 IVISion 3 輕松轉(zhuǎn)換測(cè)試程序

從 Microsoft® Excel® 輕松導(dǎo)入測(cè)試程序或數(shù)據(jù)（例如管腳命名）

邏輯清晰的完成復(fù)雜產(chǎn)品測(cè)試要求，例如用于功能測(cè)試

WK 260 PC

WK 260 PC是汽車(chē)線束和電氣組件的理想測(cè)試儀。通過(guò)計(jì)算機(jī)使用 IVISion Studio 軟件可以清晰的完成復(fù)雜測(cè)試程序編程，直觀了解測(cè)試運(yùn)行中的狀態(tài)。

故障信息可以采用圖形化顯示，可快速定位待測(cè)物 (UUT)中的故障位置。在自啟動(dòng)/命令模塊中，后臺(tái)可以持續(xù)測(cè)試并指出故障位置，并保持顯示直到故障解決。多種外圍設(shè)備可以通過(guò)計(jì)算機(jī)與測(cè)試儀相連使用。

特點(diǎn)

采用新技術(shù)和新測(cè)試算法，測(cè)試速度很快

測(cè)試點(diǎn)板卡可承受較高的外部電壓

測(cè)試點(diǎn)板卡最高可耐受50 V外部電壓

靈活多變、功能強(qiáng)大的測(cè)試點(diǎn)板卡

使用單點(diǎn)矩陣，縮短測(cè)試時(shí)間

可擴(kuò)展至20000個(gè)測(cè)試點(diǎn)

測(cè)試點(diǎn)靈活應(yīng)用，每個(gè)管腳都可以定義為以下內(nèi)容：

測(cè)試點(diǎn) – 相互切換和測(cè)量電流電壓

LED 點(diǎn) – 激活手持適配器或測(cè)試桌上的LED等

供電點(diǎn) – 通過(guò)開(kāi)關(guān)接通外部電壓用于功能測(cè)試

插接檢測(cè) – 檢測(cè)連接器是否正確插接

探測(cè)點(diǎn) – 可檢測(cè)連接器外殼定位銷(xiāo)或線束夾子正否正確安裝到位

位置測(cè)量 – 特殊伸縮探針檢測(cè)插接深度是否到位

新：四線測(cè)量法（Kelvin電路）：32 個(gè)FORCE點(diǎn) / 32 個(gè)SENSE點(diǎn)（選件）

新：大電流測(cè)試點(diǎn)（最大 1.5 A）控制，例如接觸器（選件）

功能全面、測(cè)試精準(zhǔn)

用于繼電器和電子器件的功能測(cè)試，開(kāi)關(guān)電壓可達(dá)50V

準(zhǔn)確測(cè)量電流和電壓

測(cè)試精度高至20 mOhm

新：利用四線測(cè)量法精度可達(dá) 500 μO(píng)hm

豐富的自診斷功能，可檢測(cè)發(fā)生器、測(cè)量設(shè)備、測(cè)試點(diǎn)、外部電壓和LED的狀態(tài)

轉(zhuǎn)接工裝和安裝的最簡(jiǎn)化

測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部自動(dòng)尋址識(shí)別測(cè)試點(diǎn)板卡

自動(dòng)檢測(cè)測(cè)試點(diǎn)、LED 點(diǎn)、供電點(diǎn)和探測(cè)點(diǎn)

新：ID 芯片識(shí)別功能，可自動(dòng)識(shí)別轉(zhuǎn)接測(cè)試板中的芯片

緊湊型設(shè)計(jì)，節(jié)省安裝空間

通過(guò)以太網(wǎng)接口控制，可連接任何普通計(jì)算機(jī)

大量接口

串行和并行接口可連接至外圍設(shè)備

USB 接口可用于加載測(cè)試程序或用戶(hù) ID識(shí)別

IVISion Studio 軟件：

兼有編程、測(cè)試和故障判斷的創(chuàng)新功能

多種新功能簡(jiǎn)化測(cè)試程序的編輯

從 IVIS 5 或 IVISion 3 輕松轉(zhuǎn)換測(cè)試程序

從 Microsoft® Excel® 輕松導(dǎo)入測(cè)試程序或數(shù)據(jù)（例如管腳命名）

圖形化顯示故障位置，快速定位待測(cè)物 (UUT) 的故障位置

后臺(tái)可以持續(xù)測(cè)試并指出故障位置，并保持顯示直到故障解決（自啟動(dòng)/命令模塊）

靈活的測(cè)試模塊，可在單個(gè)系統(tǒng)中檢測(cè)多種不同變量 (KSK, 定制化線束)

W 434

W 434 測(cè)試儀用于電纜測(cè)試和功能測(cè)試，配置可以靈活調(diào)整，將不同類(lèi)型的低壓和高壓發(fā)生器以及 RLC 儀表組合使用，滿足汽車(chē)行業(yè)、電纜技術(shù)行業(yè)和醫(yī)療器械行業(yè)的測(cè)試需求?？梢詿o(wú)縫集成到自動(dòng)生產(chǎn)系統(tǒng)，管理不同類(lèi)型產(chǎn)品的測(cè)試。

測(cè)試技術(shù)參數(shù)規(guī)格改變后，可以通過(guò)固件升級(jí)選擇不同硬件版本的發(fā)生器。用戶(hù)無(wú)需在購(gòu)買(mǎi)時(shí)選擇最終配置，可根據(jù)不同新需求靈活選擇不同硬件配置。

特點(diǎn)

高性能硬件、緊湊型設(shè)計(jì)

多種測(cè)試類(lèi)型：低壓測(cè)試、高壓測(cè)試、功能測(cè)試

滿足未來(lái)測(cè)試需求：通過(guò)固件升級(jí)硬件

高性能硬件、緊湊型設(shè)計(jì)

緊湊型單板發(fā)生器設(shè)計(jì)節(jié)省空間、降低成本

測(cè)試點(diǎn)模塊有 64 個(gè)測(cè)試點(diǎn)，測(cè)量點(diǎn)板卡具有最大密度設(shè)計(jì)

混合模塊有 64 個(gè)測(cè)試點(diǎn)或 64 個(gè)激勵(lì)點(diǎn)，開(kāi)關(guān)控制最高 25 VAC / 60 VDC 的電壓

組合模塊，具有 32 或 64 個(gè)測(cè)試點(diǎn)以及 8、32 或 64 個(gè)激勵(lì)點(diǎn)

通過(guò) ETE 434擴(kuò)展裝置最大可擴(kuò)展至 6656 個(gè)測(cè)試點(diǎn)

滿足未來(lái)測(cè)試需求：可根據(jù)要求升級(jí)硬件

硬件可通過(guò)固件升級(jí)

可編程電流源最高可達(dá)1 A

多種高壓發(fā)生器，最高可達(dá)1500 VDC / 1060 VAC

用于功能測(cè)試的外部發(fā)生器，最高可達(dá) 60 VDC / 25 VAC

RLC模塊可通過(guò)設(shè)定不同頻率參數(shù)測(cè)量電阻 (R)、電感 (L) 和電容 (C) 組合

直觀編程軟件 CEETIS Smart

便捷的自動(dòng)編程功能：自動(dòng)學(xué)習(xí)“標(biāo)準(zhǔn)樣品”的組件和網(wǎng)絡(luò)，并輸出到計(jì)算機(jī)進(jìn)一步編程處理

在普通計(jì)算機(jī)上輕松編程

可集成于客戶(hù)特定的ERP系統(tǒng)中

創(chuàng)新的 ID 芯片識(shí)別技術(shù)，實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)接電纜的任意插接

不需要耗費(fèi)時(shí)間分配查找連接器

不會(huì)出現(xiàn)工裝插接錯(cuò)誤，而導(dǎo)致的測(cè)試失敗

W 444

W 444 的電纜測(cè)試和功能測(cè)試功能提供了經(jīng)濟(jì)的高壓測(cè)試系統(tǒng)。電壓最高可達(dá)2250 VDC / 1500 VAC，電流最高可達(dá) 3 A，用于航空航天、鐵路行業(yè)以及汽車(chē)行業(yè)的電纜測(cè)試需求。

W444可以緊湊的集成到 19 英寸標(biāo)準(zhǔn)機(jī)柜中，應(yīng)用于不同行業(yè)的線束測(cè)試。最多支持1280 個(gè)測(cè)試點(diǎn)。

特點(diǎn)

緊湊型便攜式高壓測(cè)試系統(tǒng)，高壓可達(dá) 2250 VDC，

較高線束測(cè)試要求的經(jīng)濟(jì)性選擇

緊湊型便攜式高壓測(cè)試系統(tǒng)

高壓可達(dá)2250 VDC / 1500 VAC\

滿足 DIN EN 61010 標(biāo)準(zhǔn)，限制安全電流確保安全

可編程電流源最高可達(dá)3 A

根據(jù)型號(hào)規(guī)格可以配置265 或 1280個(gè)測(cè)試點(diǎn)

便攜式 19 英寸機(jī)箱

較高線束測(cè)試要求的經(jīng)濟(jì)性選擇

功能測(cè)試的電壓觸摸時(shí)沒(méi)有危險(xiǎn)

內(nèi)部/外部發(fā)生器，最高可達(dá)25 VAC / 60 VDC用于功能測(cè)試

RLC模塊可通過(guò)設(shè)定不同頻率參數(shù)測(cè)量電阻 (R)、電感 (L) 和電容 (C) 組合

四線測(cè)量法確保電阻測(cè)量結(jié)果精準(zhǔn)，判斷精度3 mOhm

靈活的測(cè)試點(diǎn)板卡設(shè)置，可把不同電壓等級(jí)板卡混合使用，經(jīng)濟(jì)實(shí)用

直觀的編程軟件 CEETIS Smart

便捷的自動(dòng)編程功能：自動(dòng)學(xué)習(xí)“標(biāo)準(zhǔn)樣品”的組件和網(wǎng)絡(luò)，并輸出到計(jì)算機(jī)進(jìn)一步編程處理

在普通計(jì)算機(jī)上輕松編程

可集成于客戶(hù)定制的ERP系統(tǒng)中

W 484

WEETECH專(zhuān)門(mén)為測(cè)試電動(dòng)和混合動(dòng)力汽車(chē)的高壓電纜線束及組件測(cè)試，開(kāi)發(fā)了新的 W 484 測(cè)試系統(tǒng)，滿足行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) LV 123* 的要求。高壓發(fā)生器最高電壓可達(dá)4300 Vdc / 3000 Vac，電流限制最大為 3.8 mA，按照 DIN EN 50191 標(biāo)準(zhǔn)為安全可接觸的。

W 484 是緊湊型測(cè)試系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)微歐姆范圍內(nèi)的導(dǎo)通測(cè)量和千兆歐姆范圍的絕緣測(cè)量。三個(gè)新型測(cè)量模塊可快速可靠地檢測(cè)出絕緣故障?？蛇x配 ID 芯片的轉(zhuǎn)接電纜，插接到測(cè)試系統(tǒng)端任意接口都可被自動(dòng)掃描。

特點(diǎn)

測(cè)試系統(tǒng)符合 LV 123*標(biāo)準(zhǔn)，電壓最高可達(dá) 4300 Vdc / 3,000 Vac

符合 DIN EN 50191 標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試電流限制在最大3.8 mA安全電流

可提供三種不同尺寸的19英寸標(biāo)準(zhǔn)機(jī)柜

汽車(chē)行業(yè)高壓測(cè)試的理想選擇

測(cè)試系統(tǒng)符合 LV 123*標(biāo)準(zhǔn)，電壓最高可達(dá) 4300 Vdc / 3,000 Vac

提供多種測(cè)試點(diǎn)板卡，支持 2700 Vdc / 1900 Vac電壓或最高 4300 Vdc / 3000 Vac 電壓

最大測(cè)試點(diǎn)數(shù)支持264點(diǎn) (W 484-1)、528點(diǎn) (W 484-2) 或 792點(diǎn) (W 484-3) 。

堅(jiān)固耐用的Harting Han 46 EE 輸出接口

安全測(cè)試無(wú)風(fēng)險(xiǎn)

符合 DIN EN 50191 標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試電流限制在最大3.8 mA安全電流

計(jì)算機(jī)通過(guò)以太網(wǎng)接口控制使用

可通過(guò) EMERGENCY STOP、SAFETY 或 HV-ENABLE 安全斷開(kāi)高壓源確保安全可靠

完美集成于用戶(hù)測(cè)試環(huán)境中

可提供三種不同尺寸的19英寸標(biāo)準(zhǔn)機(jī)柜

占用面積小節(jié)省了使用空間

可伸縮把手方便搬運(yùn)

可選配滾輪或起重吊環(huán)

可隱藏于測(cè)試桌中，節(jié)約空間

全面的技術(shù)規(guī)格指標(biāo)可靈活用于其他行業(yè)

高精度的ARC有源檢測(cè)模塊，最高電壓可達(dá)60 Vdc / 25 Vac，最高電流可達(dá)3 A

步進(jìn)檢測(cè)（電壓變化）

波動(dòng)檢測(cè)（斜率變化）

di/dt電流變化速率測(cè)試

可選配 ID 芯片的轉(zhuǎn)接電纜，插接到測(cè)試系統(tǒng)端任意接口都可被自動(dòng)掃描。

無(wú)需浪費(fèi)時(shí)間分別測(cè)試點(diǎn)接口插接位置

不會(huì)出現(xiàn)測(cè)試點(diǎn)接口插接位置錯(cuò)誤的情況

W 454

W 454 電纜測(cè)試和功能測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電壓最高可達(dá)2250 VDC / 1500 VAC，最高測(cè)試電流可達(dá)3 A，適用于航空航天、醫(yī)療器械和鐵路行業(yè)的電纜線束及組件測(cè)試。

W454可提供毫歐姆范圍內(nèi)的導(dǎo)通測(cè)試，千兆歐姆范圍的絕緣測(cè)試，以及電阻、電容、電感和繼電器等元器件的測(cè)試。

特點(diǎn)

功能全面適用于多種不同行業(yè)應(yīng)用

分布式測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試點(diǎn)幾乎無(wú)限擴(kuò)展

測(cè)試系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)，可最大限度減少轉(zhuǎn)接工裝要求

功能全面適用于多種不同行業(yè)應(yīng)用

可編程電壓/電流源，電流可達(dá)3 A和電壓可達(dá)2250 VDC / 1500 VAC

各種不同發(fā)生器最高可提供25A大電流測(cè)試

接通外部功能測(cè)試可編程電源，最高可達(dá)125 VDC / 250 VAC

精確測(cè)量電阻在3 mOhm內(nèi)

分布式測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試點(diǎn)幾乎無(wú)限擴(kuò)展

最多可擴(kuò)展 500,000 個(gè)測(cè)試點(diǎn)

高效的ETE454擴(kuò)展機(jī)柜具有獨(dú)立供電電源，并具有不同尺寸規(guī)格

最小化測(cè)試點(diǎn)矩陣箱的尺寸和重量，符合DIN EN 2283標(biāo)準(zhǔn)（飛機(jī)線束檢測(cè)），可以放置在飛機(jī)內(nèi)部使用

實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)接電纜長(zhǎng)度最短

分布式設(shè)計(jì)減少了待測(cè)物 (UUT)的轉(zhuǎn)接長(zhǎng)度

提高了工作場(chǎng)所的安全性

相比長(zhǎng)轉(zhuǎn)接電纜，提高了測(cè)量精度

測(cè)試系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)，可最大限度減少轉(zhuǎn)接工裝要求

測(cè)試系統(tǒng)靈活的模塊化設(shè)計(jì)，可以選配不同規(guī)格實(shí)現(xiàn)最佳性?xún)r(jià)比

混合板卡的測(cè)試點(diǎn)可作為測(cè)試點(diǎn)測(cè)試使用，也可以切換至外部可編程電源供電使用

復(fù)合板卡的測(cè)試點(diǎn)可作為測(cè)試點(diǎn)測(cè)試和供電同時(shí)使用

組合模塊的管腳可以同時(shí)用作測(cè)試點(diǎn)和電源點(diǎn)。

RLC模塊可通過(guò)設(shè)定不同頻率參數(shù)測(cè)量電阻 (R)、電感 (L) 和電容 (C) 組合

特殊測(cè)試要求可以定制配置其他特殊測(cè)量設(shè)備

CEETIS 軟件友好的人機(jī)交互界面和編程方式

通過(guò)元器件表可以實(shí)現(xiàn)復(fù)雜功能測(cè)試需求的編程，以及自動(dòng)生成測(cè)試程序

圖形化顯示網(wǎng)表內(nèi)容

創(chuàng)新的ID芯片智能轉(zhuǎn)接電纜，可實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)接電纜的任意插接

無(wú)需浪費(fèi)時(shí)間分別測(cè)試點(diǎn)接口插接位置

不會(huì)出現(xiàn)測(cè)試點(diǎn)接口插接位置錯(cuò)誤的情況

W 454 HV / W 454 SHV

W 454 HV 和 W 454 SHV 測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電壓可達(dá) 5000 VDC / 3600 VAC，滿足未來(lái)鐵路行業(yè)和汽車(chē)行業(yè)的更高要求。

W 454 HV 和 W 454 SHV可提供毫歐姆范圍內(nèi)的導(dǎo)通測(cè)試，千兆歐姆范圍的絕緣測(cè)試，以及電阻、電容、電感和繼電器等元器件的測(cè)試。非常適合測(cè)試配備復(fù)雜驅(qū)動(dòng)技術(shù)的鐵路車(chē)輛（如高鐵），電動(dòng)汽車(chē)領(lǐng)域的電纜、電纜線束和線束。